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7-SCSpecIV染料敏化太陽電池光譜性能測試系統
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技術指標：
- 光譜範圍：350-1100nm（範圍可擴展）
- 掃描間隔：≥ 1nm整數（可調）
- 掃描方式：全自動
- 測試方式：直流測試（可預測回應時間）
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設備簡介技術指標：
- 光譜範圍：350-1100nm（範圍可擴展）
- 掃描間隔：≥ 1nm整數（可調）
- 掃描方式：全自動
- 測試方式：直流測試（可預測回應時間）