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CSPM5500掃描式探針顯微鏡(SPM)
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國際主流的研究級專業儀器，集成原子力顯微鏡(AFM)，橫向力顯微鏡(LFM)，掃描隧道顯微鏡(STM)解析度： 原子力顯微鏡：橫向0.2nm，垂直0.03nm（以雲母晶體標定）掃描隧道顯微鏡：橫向0.1nm，垂直0.01nm（以石墨晶體標定）高精度計量型儀器，採用NanoSensors提供的可溯源于國際計量權威機構PTB的標準樣品進行校準一鍵式快速全程全自動進樣，無需手動預調，行程大於30mm，可容納超大樣品，最大樣品尺寸為：45mm×45mm×30mm兩級可讀數樣品調節機構，可對樣品進行精確的檢測區域定位一次掃描技術，圖像分辨高達4096×4096物理象素，微米級掃描即可得到納米級的實際資訊先進PID回饋演算法實現快速高精度作用力控制，確保系統在高速掃描中穩定成像，實際掃描速度提升一個數量級系統採用10M/100M快速乙太網(Fast Ethernet 10/100)或USB 3.0與電腦連接，支援固件遠端升級主控主機殼前面板具有16×4液晶顯示幕，系統當前狀態即時顯示具備即時線上三維圖像顯示功能，便於使用者在檢測過程中隨時直觀獲得樣品資訊集成了多功能，多模式的新型原子力顯微鏡。系統功能標準模組：原子力顯微鏡(AFM)：包括接觸、輕敲、相移成像(Phase Imaging)等多種工作模式橫向力顯微鏡(LFM)：具有摩擦力回路曲線、摩擦力載荷曲線、摩擦力恒載荷曲線等摩擦學性能分析測量功能掃描隧道顯微鏡(STM)：包括恒流模式、恒高模式、I-V曲線、I-Z曲線等曲線測量分析功能：力-距離曲線、振幅-距離曲線、相移-距離曲線等選配功能：納米加工：包括圖形刻蝕模式、壓痕/機械刻畫、向量掃描模式、DPN浸潤筆模式等磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡環境控制掃描探針顯微鏡液相掃描探針顯微鏡導電原子力顯微鏡掃描探針聲學顯微鏡掃描開爾文探針顯微鏡掃描電容顯微鏡壓電力顯微鏡樣品溫度控制系統（控溫範圍：-20～150℃）樣品加熱系統（控溫範圍：室溫～250℃）
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設備簡介國際主流的研究級專業儀器，集成原子力顯微鏡(AFM)，橫向力顯微鏡(LFM)，掃描隧道顯微鏡(STM)解析度： 原子力顯微鏡：橫向0.2nm，垂直0.03nm（以雲母晶體標定）掃描隧道顯微鏡：橫向0.1nm，垂直0.01nm（以石墨晶體標定）高精度計量型儀器，採用NanoSensors提供的可溯源于國際計量權威機構PTB的標準樣品進行校準一鍵式快速全程全自動進樣，無需手動預調，行程大於30mm，可容納超大樣品，最大樣品尺寸為：45mm×45mm×30mm兩級可讀數樣品調節機構，可對樣品進行精確的檢測區域定位一次掃描技術，圖像分辨高達4096×4096物理象素，微米級掃描即可得到納米級的實際資訊先進PID回饋演算法實現快速高精度作用力控制，確保系統在高速掃描中穩定成像，實際掃描速度提升一個數量級系統採用10M/100M快速乙太網(Fast Ethernet 10/100)或USB 3.0與電腦連接，支援固件遠端升級主控主機殼前面板具有16×4液晶顯示幕，系統當前狀態即時顯示具備即時線上三維圖像顯示功能，便於使用者在檢測過程中隨時直觀獲得樣品資訊集成了多功能，多模式的新型原子力顯微鏡。系統功能標準模組：原子力顯微鏡(AFM)：包括接觸、輕敲、相移成像(Phase Imaging)等多種工作模式橫向力顯微鏡(LFM)：具有摩擦力回路曲線、摩擦力載荷曲線、摩擦力恒載荷曲線等摩擦學性能分析測量功能掃描隧道顯微鏡(STM)：包括恒流模式、恒高模式、I-V曲線、I-Z曲線等曲線測量分析功能：力-距離曲線、振幅-距離曲線、相移-距離曲線等選配功能：納米加工：包括圖形刻蝕模式、壓痕/機械刻畫、向量掃描模式、DPN浸潤筆模式等磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡環境控制掃描探針顯微鏡液相掃描探針顯微鏡導電原子力顯微鏡掃描探針聲學顯微鏡掃描開爾文探針顯微鏡掃描電容顯微鏡壓電力顯微鏡樣品溫度控制系統（控溫範圍：-20～150℃）樣品加熱系統（控溫範圍：室溫～250℃）